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電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM-EDS-EBSD）とタングステンフィラメント型波長分散型電子線マイクロプローブ装置（W-EPMA-WDS）機器講習会を開催します （終了しました）
タイトル：電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM-EDS-EBSD）とタングステンフィラメント型波長分散型電子線マイクロプローブ装置（W-EPMA-WDS）機器講習会
日時：2022年4月22日（金）11:00～17:00
追加実習日4月25日（月）、26（火）、いずれも 12：30～17：00
場所： 〇座学 静岡キャンパス 理学部B棟2階B201室 11：00～11：30
〇 実習 1回目 4月22日（金） 静岡キャンパス総合研究棟211(FE-SEM)、207室(EPMA) 12：30～17：00
追加実習 2回目 4月25日（月） 静岡キャンパス総合研究棟211(FE-SEM)、207室(EPMA) 12：30～17：00
追加実習 3回目 4月26日（火） 静岡キャンパス総合研究棟211(FE-SEM)、207室(EPMA) 12：30～17：00
講習内容：電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM-EDS-EBSD）とタングステンフィラメント型波長分散型電子線マイクロプローブ装置（W-EPMA-WDS）の基本原理と使用方法について、座学と実習を行う。
いずれも電子線を対象物に照射し発生する特性X線の強度から構成元素を分析する装置です。
FE-SEM-EDS-EBSDは高倍率でのSEMとBEI観察、エネルギー分散型元素分析、元素マッピング、結晶方位測定が可能です。
FE-SEM-EDS-EBSDは低真空でも像の観察、元素分析ができるため蒸着が必要ありません。2021年12月静岡キャンパスに納品された機器（日本電子社製JSM-IT700HR、オックスフォード社製170mm2 検出器＋symmetry2 EBSD検出器）です。
W-EPMA-WDSは従来型の波長分散型元素分析(0.1wt%以下)と広範囲の元素マッピングに使用できます。2021年12月静岡キャンパスに納品された機器（日本電子社製JXA-iSP100）です。 装置の概要は次のHPにあります。
受講対象者： 希望者どなたでも。
実習は人数やご希望曜日によって、金曜日、月曜日、火曜日を受講できます。
申し込み時に各人、実習に参加可能な第1、第2、第3希望日をお知らせください。
実習は各研究室からのべ3名程度まで参加できるようにします。
実習は日本語で行います。
主催： 静岡大学グリーン科学技術研究所 研究支援室 分子構造解析部
講師： 川本竜彦 （理学部地球学科）、大井修吾 学術研究員
申込： 2022年4月20日(水曜日）午前10時〆切
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参加ご希望の方は講習参加申込フォームを4月20日（水）午前10時までにご提出ください。