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電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM-EDS-EBSD)とタングステンフィラメント型波長分散型電子線マイクロプローブ装置(W-EPMA-WDS)機器講習会を開催します (終了しました)

タイトル:電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM-EDS-EBSD)とタングステンフィラメント型波長分散型電子線マイクロプローブ装置(W-EPMA-WDS)機器講習会

日時:2022年4月22日(金)11:00~17:00

         追加実習日4月25日(月)、26(火)、いずれも 12:30~17:00

場所: 〇座学 静岡キャンパス 理学部B棟2階B201室 11:00~11:30
              

              〇 実習 1回目 4月22日(金)   静岡キャンパス総合研究棟211(FE-SEM)、207室(EPMA) 12:30~17:00

             追加実習 2回目 4月25日(月) 静岡キャンパス総合研究棟211(FE-SEM)、207室(EPMA) 12:30~17:00

            追加実習 3回目 4月26日(火) 静岡キャンパス総合研究棟211(FE-SEM)、207室(EPMA) 12:30~17:00


講習内容:電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM-EDS-EBSD)とタングステンフィラメント型波長分散型電子線マイクロプローブ装置(W-EPMA-WDS)の基本原理と使用方法について、座学と実習を行う。

いずれも電子線を対象物に照射し発生する特性X線の強度から構成元素を分析する装置です。

FE-SEM-EDS-EBSDは高倍率でのSEMとBEI観察、エネルギー分散型元素分析、元素マッピング、結晶方位測定が可能です。

FE-SEM-EDS-EBSDは低真空でも像の観察、元素分析ができるため蒸着が必要ありません。2021年12月静岡キャンパスに納品された機器(日本電子社製JSM-IT700HR、オックスフォード社製170mm2 検出器+symmetry2 EBSD検出器)です。

W-EPMA-WDSは従来型の波長分散型元素分析(0.1wt%以下)と広範囲の元素マッピングに使用できます。2021年12月静岡キャンパスに納品された機器(日本電子社製JXA-iSP100)です。 装置の概要は次のHPにあります。

FE-SEM,SEM-EPMAを予約するためのページ

受講対象者: 希望者どなたでも。

                    実習は人数やご希望曜日によって、金曜日、月曜日、火曜日を受講できます。

                    申し込み時に各人、実習に参加可能な第1、第2、第3希望日をお知らせください。

                    実習は各研究室からのべ3名程度まで参加できるようにします。

                    実習は日本語で行います。

主催: 静岡大学グリーン科学技術研究所 研究支援室 分子構造解析部

講師: 川本竜彦 (理学部地球学科)、大井修吾 学術研究員

申込: 2022年4月20日(水曜日)午前10時〆切 

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参加ご希望の方は講習参加申込フォームを4月20日(水)午前10時までにご提出ください。