Ｘ線光電子分光装置

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学外の方へＸ線光電子分光装置

機器No	53
機器名	Ｘ線光電子分光装置
規格	PHI　GENESIS
メーカー	アルバックファイ
概要	アルミニウムまたはクロム線源から発生するX線を照射し、その際に放出される光電子のエネルギーを測定することによって、材料中の元素組成およびその科学状態を評価することができる。
設置場所	総合研究棟（大谷）1階126室
利用料	28,000円
課金単位	1時間
担当	大矢
性能等・備考	こちらの装置へのお問合せ・ご相談は理学部・大矢（oya.yasuhisa〔at〕shizuoka.ac.jp）までお願いいたします。