学外の方へ・機器一覧(分子構造解析部)

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機器名称規格
(メーカー)
料金管理部局
グロー放電発光分析装置GD-Profiler2(堀場製作所)16,000円
X線光電子分光装置PHI GENESIS(アルバックファイ)28,000円
超伝導核磁気共鳴装置600MHz(NMR)ECA-600(日本電子)7,000円
走査プローブ顕微鏡Nanoscope V/MMAFM(ビーコ(Veeco))48,000円
超分子集合体X線構造解析装置RA-Micro7HFM,NANO-Viewer,R-axislV⁺⁺(リガク)166,000円
偏光ゼーマン原子吸光光度計ZA3700(日立製作所)31,000円
透過型電子顕微鏡(TEM)JEM-1400Plus(日本電子)10,000円
走査型電子顕微鏡(GS-SEM)JSM-6510LV(日本電子)10,000円
熱分析装置TG-DTA81205Z(リガク)4,000円
ミリ発光寿命測定装置F-7000(日立ハイテクノロジーズ)7,000円
ガスクロマトグラフ質量分析計JMS-T100GCV(日本電子)14,000円
ガスクロマトグラフ質量分析計(電界脱離イオン化測定)JMS-T100GCV(日本電子)10,000円
円二色分散計(CD)J-820(日本分光)15,000円
微小結晶用単結晶構造解析装置(室温測定・低温測定)Micromax-007HF(リガク)9,000円(室温測定)11,000円(低温測定)
試料水平型X線構造解析装置CA-1320A(リガク)20,000円
フーリエ変換赤外分光光度計FT/IR-4X(日本分光)20,000円
全自動元素分析装置EA3000(EURO VECTOR)9,000円
紫外可視分光光度計UV26000i(島津製作所)12,000円
分光蛍光光度計RF6000(島津製作所)12,000円
電子線マイクロプローブJXA-iSP100(日本電子)6,000円
電界放出型走査電子顕微鏡JSM-IT700HR (+Ultim Max 170, Symmetry S2)(日本電子(+オックスフォード・インストゥルメンツ))9,000円
電気化学測定装置ALS621E(ビー・エー・エス)12,000円
銅線源単結晶X線解析装置Synergy-R(リガク)52,000円
レーザラマン分光光度計NRS-5500(日本分光)45,000円