機器リスト

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透過型電子顕微鏡(TEM)

機器No 12
機器名 透過型電子顕微鏡(TEM)
規格 JEM-1400Plus
メーカー 日本電子
概要 電子ビームの透過を用いて、ナノ材料、高分子、細胞などの微細構造を観察・記録する装置。100倍 - 50万倍程度の像を得ることができる。STEM観察、EDS-元素マッピング像観察を行うことができる。
設置場所 総合研究棟(大谷)2階211室
利用料 10,000円
課金単位 1日間
担当 三重野
性能等・備考

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